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日光燈製造業勞工汞暴露環境改善輔導追蹤計畫(POD)
- 作者 /
行政院勞工委員會勞工安全衛生研究所
- 出版社 /
行政院勞工委員會勞工安全衛生研究所(秀威代理)
- 出版日期 /
2008-04
- ISBN /
9410097011666
- 定價 /
NT$
75
- 優惠價 / NT$
68
本書特色
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簡介
本研究目的在於降低國內日光燈製造廠勞工汞蒸氣暴露與製程逸散情形。擬同時進行四項數據的採集:(1)勞工作業環境測定探討勞工作業環境空氣中汞暴露濃度。(2)勞工尿液檢體作為生物偵測之用,以測定尿中無機汞濃度代表體內暴露。(3)問卷收集勞工作業與生活相關資料。(4)神經行為功能測試,並探討暴露濃度與神經行為危害間之劑量-反應效應。
作業環境樣本部分,我們發現在A廠排氣機作業區內勞工汞蒸氣暴露過量的情形。其中在定點採樣方面,直管排氣作業區平均汞蒸氣濃度為0.049 mg/m3非常接近法定容許濃度(0.05mg/m3),同時該廠彎管排氣作業區平均汞蒸氣濃度為0.425 mg/m3超出法定容許濃有八倍之多。在個人採樣樣品中,直管排氣(0.063 mg/m3)與彎管排氣(0.062 mg/m3)區域之作業人員平均汞蒸氣暴露值都高於容許濃度。
在勞工生物偵測樣本部分,我們亦可發現在排氣作業區的勞工尿中汞濃度較高,其中A廠排氣作業勞工尿中汞平均值為55.3μg/gCrt.高於ACGIH BEI值(35μg/gCrt.),而排氣/穿線(29.65μg/gCrt.)與班長(19.95μg/gCrt.)都超出二分之一BEI值。
在問卷資料方面,低濃度組和高濃度組在生活習慣上無顯著差異,表示污染物主要來源為工作環境。而神經行為測試與身體平衡測試結果顯示,不管是低濃度或高濃度汞暴露對腦神經皆有所影響。